-
28 февраля 2011 г.«Обзор состояния и тенденций развития технологий тестирования JTAG: IEEE 1149.1, IEEE 1149.4, IEEE 1149.6, IEEE 1149.7, IEEE Р1687».
-
26 октября 2010 г.Госкорпорация РОСНАНО и НПЦ «ЭЛВИС» объявляют о начале проекта по созданию системного центра проектирования интегральных микросхем сверхвысокой степени интеграции по нормам 90 нанометров и менее.
-
27 сентября 2010 г.
«Разработка и анализ информационных алгоритмов повышения эффективности визуализации динамических объектов компьютерными видеосистемами».
-
09 апреля 2010 г.ГУП НПЦ «ЭЛВИС» примет участие в Международной выставке компонентов и комплектующих для электронной промышленности «ЭкспоЭлектроника-2010».
-
17 марта 2010 г.
ГУП НПЦ «ЭЛВИС» примет участие на выставке «Цифровая обработка сигналов и ее применение» (DSPA-2010), которая пройдет с 31 марта по 2 апреля в Москве в здании Института проблем управления им. В.А. Трапезникова.
-
22 января 2010 г.
"Методы повышения эффективности функциональной верификации на примере задачи верификации многоядерного DSP кластера".
-
16 декабря 2009 г.
«Принципы построения и разработка универсальных DSP-ядер с оптимальным по производительности конвейером инструкций для вычислительных и управляющих систем».
Displaying results 43 to 49 out of 78
